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PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環境，通過外接不同的電學測量儀器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數檢測，用于低溫真空環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

PSM-4K系列低溫探針臺是一款閉循環低溫探針臺，緊湊型及低振動的設計，能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個＜5K-350K高低溫真空測試環境，通過外接不同的電學測量儀器，可完成材料/器件的IV、CV、光學以及微波等參數檢測，實現低溫真空環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

廣泛用于圖象表征各種熱轉變過程，能夠直接用于觀察樣品在加熱或冷卻過程中的形態變化以及結晶過程中形狀、結構、顏色以及大小和數量的變化